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你知道瞬態光電性能測量系統的功能嗎?

 更新時間:2020-12-07 點擊量:869
  太陽能電池瞬態光電性能測量系統(載流子遷移率測量系統,瞬態光電流測試系統、瞬態光電性能測量系統),發光器件發光光譜分析系統以及相關器件的軟件模擬研發系統,對于光電器件微觀機理研究提供了有力的測試工具;多功能一體化高性能瞬態測試平臺,不但可以測量器件的載流子遷移率、載流子壽命、載流子動力學過程、阻抗譜等,還可以對瞬態光電流譜TPC,瞬態光電壓譜TPV、調制光電流譜IMPS、瞬態光電壓譜IMVS等進行測量分析,全面分析器件中的載流子特性和瞬態過程。
  主要測量功能:
  * 大功率點MMP、FF、Voc、Isc、VS 光強,遷移率(I-V測試 & I-V-L測試,空間電荷限制電流SCLC法)
  * 載流子密度,載流子動力學過程(瞬態光電流法 TPC)
  * 載流子壽命,載流子符合動力學過程(瞬態光電壓/瞬態開路電壓法 TPV)
  * 載流子遷移率(暗注入瞬態法 DIT,單載流子器件&OLED)
  * 串聯電阻,幾何電容,RC時間(電壓脈沖法 Pulse Voltage)
  * 參雜密度,電容率,串聯電阻,載流子遷移率(暗態線性增加載流子瞬態法 Dark-CELIV)
  * 載流子遷移率,載流子密度(光照線性增加載流子瞬態法 Photo-CELIV)
  * 載流子復合過程,朗之萬函數復合前因子(時間延遲線性增加載流子瞬態法 Delaytime-CELIV)
  * 不同工作點的載流子強度,載流子遷移率(注入線性增加載流子瞬態法 Injection-CELIV)
  * 幾何電容,電容率(MIS線性增加載流子瞬態法 MIS-CELIV)
  * 陷阱強弱度,等效電路(阻抗譜測試 IS)
  * 遷移率,陷阱強弱度,電容,串聯電阻(電容VS頻率 C-f)
  * 內建電壓,參雜濃度,注入勢壘,幾何電容(電容VS電壓 C-V)
  * 點亮電壓(電流電壓照度特性 I-V-L)
  * 發光壽命,載流子遷移率(瞬態電致發光法 TEL)
  *  載流子遷移率(TEL瞬態電致發光,Photo-CELIV線性增壓抽取載流子)
  *  OLED/鈣鈦礦LED發光特性測量(發光器件測量);
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