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OLED發光效率測量系統

描述:OLED發光效率測量系統,我公司推出OLED光譜性能測試系統,OLED發射光譜測量系統,OLED光譜分析儀,OLED光電性能測試系統(IVL曲線,外量子效率EQE),OLED載流子遷移率測量系統、光電性能評估系統以及軟件模擬研發系統,為廣大科研工作者和研發機構提供了有效的測試工具。

更新時間:2023-09-07
產品型號:
廠商性質:代理商
詳情介紹
品牌其他品牌價格區間面議
測量模式交流產地類別進口
應用領域環保,化工,生物產業,能源,電子

OLED發光效率測量系統

應用:
    有機發光器件OLED
    量子點LED
    鈣鈦礦LED等

主要測試功能:
        OLED效率測量/EQE測量,功率效率Lm/W 和電流效率 Cd/A;
        發射角度-光譜測量;
        光譜&顏色測量@發射角;
        CIE xyY和顯色指數CRI;
        可視角測量;
        IVL(電流—電壓—亮度)測量;
        PL光致發光和EL電致發光測量;
        p,s極性測量;

OLED發光效率測量系統主要技術規格:
        角度范圍:-85°~+85°;
        光譜范圍:360nm~880nm,分辨率1.2nm;

 

? 主要測量功能:
     * 大功率點MMP、FF、Voc、Isc、VS 光強,遷移率(I-V測試 & I-V-L測試,空間電荷限制電流SCLC法)
     * 載流子密度,載流子動力學過程(瞬態光電流法 TPC)
     * 載流子壽命,載流子符合動力學過程(瞬態光電壓/瞬態開路電壓法 TPV)
     * 載流子遷移率(暗注入瞬態法 DIT,單載流子器件&OLED)
     * 串聯電阻,幾何電容,RC時間(電壓脈沖法 Pulse Voltage)
     * 參雜密度,電容率,串聯電阻,載流子遷移率(暗態線性增加載流子瞬態法 Dark-CELIV)
     * 載流子遷移率,載流子密度(光照線性增加載流子瞬態法 Photo-CELIV)
     * 載流子復合過程,朗之萬函數復合前因子(時間延遲線性增加載流子瞬態法 Delaytime-CELIV)
     * 不同工作點的載流子強度,載流子遷移率(注入線性增加載流子瞬態法 Injection-CELIV)
     * 幾何電容,電容率(MIS線性增加載流子瞬態法 MIS-CELIV)
     * 陷阱強弱度,等效電路(阻抗譜測試 IS)

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