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高壓漏電流及熱釋電測量系統

描述:高壓漏電流及熱釋電測量系統,詳細說明:美國Polyk Technologies公司研發了高壓漏電流和熱釋電測量系統,對于研發高能量密度和功率介電材料意義重大!

更新時間:2023-09-07
產品型號:
廠商性質:代理商
詳情介紹
品牌其他品牌價格區間面議
產地類別進口應用領域環保,化工,生物產業,能源,電子

高壓漏電流及熱釋電測量系統

開發背景:
1)在高能量密度和功率電容中,漏電流對于功率損耗和熱擊穿意義重大;
2)依據ASTM D257測試標準,很多商用材料的電阻率在短時間(60s)低電場(<1V/um)下通常被測量;相比之下,很多電容運行電場往往>100V/um,并且電導率隨電場呈指數增加;因此這些材料的數據與實際應用關聯不大;
3)在高電場和高溫下測量高分子薄膜的漏電流很具有挑戰性:
   -電流達到pA(10e-12A)量級,因此周圍環境的干擾必須*被屏蔽;
   -在長期高壓下測試,介電液可能變得導電,因此測試必須在無介電液的空氣中進行,很多試樣在空氣中有很低的介電擊穿強度,而且長時間(>1h)高電場(>100V/um)下測試就非常困難;
   -高分子薄膜通常比較軟,而且很容易被電極損壞,因此非常困難的測試這種樣品(厚度<10um)在>100V/um電場下;

高壓漏電流及熱釋電測量系統

測試系統功能及配置:
1)pA測量單元:Keithley 6517(6514)或者類似的儀表,需配備同軸疲敝電纜;
2)高壓單元:SRS PS350 或者Trek Voltage 10kV;
3)溫度范圍:-150℃ to >250℃,帶液氮冷卻;
4)全屏蔽測試箱體,絕緣安裝在腔體門內側,便于裝載樣品;
5)高壓加載通過彈簧加載的球電極,即保證良好的電接觸,又不會損壞軟的高分子薄膜樣品;
6)pA電流測量已經被印證,通過<5um電容薄膜在高場(200V/um)下測試>20h無介電擊穿;
7)試樣大?。簎p to 8cm直徑;
8)該系統也可用于熱激發激化電流測量或者熱釋電電流;
9)模塊化設計,測試腔室也可以用于介電和高壓測試系統;

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