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OLED光譜分析系統

描述:OLED光譜分析系統,詳細說明:
我公司推出OLED器件和鈣鈦礦LED發射角度光譜分析系統(OLED光譜分析儀)、載流子遷移率測量系統、電學性能評估系統以及軟件模擬研發系統,為廣大科研工作者和研發機構提供了有力的測試工具。

更新時間:2023-09-07
產品型號:
廠商性質:代理商
詳情介紹
品牌其他品牌價格區間面議
產地類別進口應用領域環保,化工,生物產業,能源,電子

OLED光譜分析系統

我公司推出OLED器件和鈣鈦礦LED發射角度光譜分析系統(OLED光譜分析儀)、載流子遷移率測量系統、電學性能評估系統以及軟件模擬研發系統,為廣大科研工作者和研發機構提供了有力的測試工具。


OLED光譜分析系統用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其其他發光器件的發射光譜特性和極化角,同事也可測量器件的s和p偏振光譜、發射光譜與角度的關系,計算出發射層中激子的發光角度及位置分布。


產品名稱:OLED/LED電致發光/光致發光測量系統,EL/PL測量系統,多角度光譜測量系統,發光效率測量系統,發光光譜測量系統,外量子效率測量系統。


技術優勢:

  • 角度依賴的PL光致發光譜分析

  • 角度依賴的EL電致發光譜分析

  • 角度依賴的發光分析

  • 兼容頂發光和底發光結構的OLED的及其他發光器件

  • p- and s-偏振態檢測

  • 偏振角度連續掃描

  • 發光層中發光偶極子檢測及偶極子趨向分析

  • 兼容各種幾何尺寸樣品

  • 樣品便捷對準

  • 可與Setfos結合,對發光層進行分析


測量功能:

  • 顏色效率分析

  • 可視角分析

  • 量子效率EQE

  • 流明效率lm/W

  • 發光效率Cd/A

  • 發光區域擬合

  • 發光趨向分析

  • 發光特性角度依賴分析

  • 光譜和顏色VS.發射角

  • 發光層中偏振態分析

  • 散射特性分析

  • 工作點

  • 效能 (cd/A)

  • CIE坐標

  • 色溫和顯色指數等分析

  • 電流-電壓-亮度(J-V-L)曲線測量

  • 光譜輻照度/強度

  • 輻射強度
  • 亮度



技術規格:

微信圖片_20220623110627.png


測試模式:

微信圖片_20220622150725.png


測量實例:

網頁版.jpg



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